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microLED measurement system

Optoelectronic Equipment

microLED measurement system

Introduce the same microLED PL/EL machine and take 30 minutes to measure quickly

Inquiry

規格

測量
• MicroLED像素的光學特性、光譜特性和結構特性以及缺陷
Map圖
• 適用於檢測缺陷區域的大片晶圓
檢測
• 納米級像素光致發光(PL)和電致發光(EL)
表征
• 每個像素的光學特性、光譜特性和結構特性及缺陷